테르비움()III) 산화물
Terbium(![]() | |
이름 | |
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IUPAC 이름 테르비움(terbium)III) 산화물 | |
기타 이름 삼산화 테르비움, 테르비아, 테르비움 세스키오사이드 | |
식별자 | |
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3D 모델(JSmol) | |
ECHA InfoCard | 100.031.668 ![]() |
EC 번호 |
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펍켐 CID | |
CompTox 대시보드 (EPA) | |
특성. | |
O3TB2 | |
어금질량 | 365.848 g·190−1 |
외관 | 백색 결정체 |
밀도 | 7.91 g/cm3 |
녹는점 | 2,410 °C(4,370 °F, 2,680 K) |
자기 감수성(magnetic susibility) | 0.07834cm3/cm |
구조 | |
큐빅, cI80 | |
Ia3로206번길[1] | |
a = 1.057 nm | |
열화학 | |
성 어금니 엔트로피 (S | 156.90 J/몰·K |
의 성 엔탈피 대형화 (ΔfH⦵298) | -1865.23 kJ/mol [2] |
기브스 자유 에너지 (ΔfG˚) | -1776.553 kJ/mol [2] |
위험 | |
나열되지 않음 | |
관련 화합물 | |
기타 음이온 | 테르비움()III) 염화물 |
기타 양이온 | 가돌리늄(III) 산화물 디스프로슘(Disprosium).III) 산화물 |
달리 명시된 경우를 제외하고, 표준 상태(25°C [77°F], 100 kPa)의 재료에 대한 데이터가 제공된다. | |
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Infobox 참조 자료 | |
테르비움()III) terbium sesquioxide라고도 알려진 산화물은 희토류 금속 terbium의 sesquioxide로 화학식 TbO를
2
3 가지고 있다. 칼슘을 도핑했을 때 p형 반도체로,[3] 1300℃에서 수소에 함유된
4
7 TbO를 24시간 줄여 준비할 수 있다.[4]
- Tb4O7
+ H2
→ 2Tb2O3
+ H2O
이것은 기본적인 산화물이고 산을 묽게 하기 위해 쉽게 용해된 후 거의 무색 테르비움 소금이 형성된다.
- TbO23 + 6H+ → 2Tb3+ + 3 HO2
결정 구조는 입방형이고 격자 상수는 a = 1057 pm이다.[6]
참조
- ^ Curzon A.E.; Chlebek H.G. (1973). "The observation of face centred cubic Gd, Tb, Dy, Ho, Er and Tm in the form of thin films and their oxidation". J. Phys. F. 3 (1): 1–5. doi:10.1088/0305-4608/3/1/009.
- ^ a b c R. 로비, B. 헤밍웨이, 그리고 J. Fisher, US Geol, "298.15K, 1bar 압력 및 고온에서 광물 및 관련 물질의 열역학적 특성" 생존, 제1452권, 1978.[1]
- ^ Reidar Haugsrud; Yngve Larring & Truls Norby (December 2005). "Proton conductivity of Ca-doped Tb
2O
3". Solid State Ionics. Elsevier B.V. 176 (39–40): 2957–2961. doi:10.1016/j.ssi.2005.09.030. - ^ G. J. McCarthy (October 1971). "Crystal data on C-type terbium sesquioxide (Tb
2O
3)". Journal of Applied Crystallography. 4 (5): 399–400. doi:10.1107/S0021889871007295. - ^ Haugsrud, Reidar; Larring, Yngve & Norby, Truls (December 2005). "Proton conductivity of Ca-doped Tb2O3". Solid State Ionics. Elsevier B.V. 176 (39–40): 2957–2961. doi:10.1016/j.ssi.2005.09.030.
- ^ N. C. Baenzinger, H. A. Eick, H. S. Schuldt, L. Eyring: 테르비움 옥사이드. III. 여러 안정 단계의 X선 회절 연구 인: 미국 화학 협회 저널, 1961년, 83년, 10년, S. 2219-23.