버스트 노이즈
Burst noise
버스트 노이즈는 반도체와 초박형 [1]게이트 산화막에서 발생하는 일종의 전자 노이즈다.이것은 랜덤 전신 노이즈(RTN), 팝콘 노이즈, 임펄스 노이즈, 쌍안정 노이즈 또는 랜덤 전신 신호(RTS) 노이즈라고도 불립니다.
랜덤하고 예측할 수 없는 시간에 수백 마이크로볼트의 높은 두 개 이상의 이산 전압 또는 전류 레벨 간에 갑자기 스텝과 같은 전환이 이루어집니다.오프셋 전압 또는 전류의 각 전환은 종종 몇 밀리초에서 몇 초까지 지속되며 오디오 [2]스피커에 연결하면 팝콘 터지는 소리처럼 들립니다.
팝콘 노이즈는 초기 지점 접촉 다이오드에서 처음 관찰된 후 첫 번째 반도체 Op-Amp 중 하나인 [3]709를 상용화하는 동안 다시 발견되었다.팝콘 노이즈의 단일 소스가 모든 발생을 설명하도록 이론화되지는 않았지만, 가장 일반적으로 발생하는 원인은 박막 인터페이스 또는 벌크 반도체 결정의 결함 부위에서 전하 캐리어가 무작위로 포착되고 방출되는 것입니다.이러한 전하가 트랜지스터 성능에 큰 영향을 미치는 경우(MOS 게이트 아래 또는 바이폴라 베이스 영역 등) 출력 신호가 상당할 수 있습니다.이러한 결함은 중이온 주입과 같은 제조 공정이나 표면 [4][5]오염과 같은 의도하지 않은 부작용으로 인해 발생할 수 있습니다.
개별 op-amp는 피크 검출기 회로로 팝콘 소음을 선별하여 특정 애플리케이션에서 [6]소음을 최소화할 수 있다.
버스트 노이즈는 두 개의 다른 값 사이에서 불연속적으로 점프하는 마르코프 연속시간 확률 과정인 전신 프로세스를 통해 수학적으로 모델링됩니다.
「 」를 참조해 주세요.
레퍼런스
- ^ Ranjan, A.; Raghavan, N.; Shubhakar, K.; Thamankar, R.; Molina, J.; O'Shea, S. J.; Bosman, M.; Pey, K. L. (2016-04-01). "CAFM based spectroscopy of stress-induced defects in HfO2 with experimental evidence of the clustering model and metastable vacancy defect state". 2016 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS): 7A–4–1–7A–4–7. doi:10.1109/IRPS.2016.7574576. ISBN 978-1-4673-9137-5.
- ^ Rajendran, Bipin. "Random Telegraph Signal (Review of Noise in Semiconductor Devices and Modeling of Noise in Surrounding Gate MOSFET)" (PDF). Archived from the original (PDF) on April 14, 2006.
- ^ "Operational Amplifier Noise Prediction" (PDF). Intersil Application Note. Archived from the original (PDF) on 2007-04-14. Retrieved 2006-10-12.
- ^ "Noise Analysis In Operational Amplifier Circuits" (PDF). Texas Instruments application report.
- ^ Lundberg, Kent H. "Noise Sources in Bulk CMOS" (PDF).
- ^ "Op-Amp Noise can be Deafening Too" (PDF).
Today, although popcorn noise can still occasionally occur during manufacturing, the phenomenon is sufficiently well understood that affected devices are detected and scrapped during test.
