기능 지향적 검색

FOS(Feature-Oriential Scanning)는 현미경 프로브 부착을 위한 기준점으로 표면 형상(물체)을 사용하는 스캔 프로브 현미경으로 표면 지형을 정밀 측정하는 방법이다. FOS 방법에서는 한 표면 형상에서 가까운 다른 표면 형상으로 전달하여 형상과 형상 근린 지형 사이의 상대적 거리를 측정한다. 이 접근방식은 표면의 의도된 영역을 부품별로 스캔한 다음 얻은 단편으로부터 전체 이미지를 재구성할 수 있다. 언급된 것 외에도, 메소드에 다른 이름인 OOS(객체 지향 검색)를 사용하는 것이 허용된다.

지형

넓은 의미에서 언덕이나 구덩이처럼 보이는 지형 요소는 표면 특징으로 삼을 수 있다. 표면 특징(물체)의 예로는 원자, 중간자, 분자, 곡물, 나노입자, 군집, 결정체, 양자점, 나노입자, 기둥, 모공, 짧은 나노와이어, 짧은 나노로드, 짧은 나노튜브, 바이러스, 박테리아, 오르간ell, 세포 등이 있다.

FOS는 표면 지형(그림 참조)과 기타 표면 특성 및 특성에 대한 고정밀 측정을 위해 설계되었다. 더욱이, 기존의 스캐닝과 비교하여 FOS는 더 높은 공간 해상도를 얻을 수 있다. FOS에 내장되어 있는 여러 가지 기법 덕분에 열적 표류나 기류에 의한 왜곡은 실질적으로 제거된다.

적용들

FOS는 다음과 같은 응용 분야를 가지고 있다: 표면 계측학, 정밀한 프로브 포지셔닝, 자동 표면 특성화, 자동 표면 수정/시뮬레이션, 나노 주물의 자동 조작, "상향" 어셈블리의 나노기술학적 프로세스, 다중 가운 기구의 분석 및 기술 프로브에 대한 조정된 제어, c원자/원자 조립자의 온톨롤, 프로브 나노석기기의 제어 등

참고 항목

• 역스캔
• 기능 중심의 포지셔닝

참조

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2. (러시아어 번역 가능)

3. R. V. Lapshin (2011). "Feature-oriented scanning probe microscopy" (PDF). In H. S. Nalwa (ed.). Encyclopedia of Nanoscience and Nanotechnology. Vol. 14. USA: American Scientific Publishers. pp. 105–115. ISBN 978-1-58883-163-7.

4. (러시아어로)

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12. : CS1 maint: 위치(링크)

외부 링크

• 특징 중심 스캐닝, 연구 섹션, SPM & 나노테크놀로지에 관한 Lapshin's Personal Page