X 파라미터
X-parameters | 이 기사의 주요 기고자는 그 주제와 밀접한 관련이 있는 것으로 보인다. (2009년 12월) |
X-파라미터는 S-파라미터의 일반화이며 큰 입력 전력 레벨에서 비선형 구성요소에 의해 생성되는 고조파의 진폭과 상대 위상을 특징짓는 데 사용됩니다.X 파라미터는 PHD(Poly-Harmonic Distribution) 비선형 동작 모델의 파라미터라고도 합니다.
묘사
X 파라미터는 고주파 설계를 위한 새로운 카테고리의 비선형 네트워크 파라미터를 나타냅니다(비선형 벡터 네트워크아나라이저는 대형 신호 네트워크아나라이저라고도 불립니다).[1]
X 매개변수는 선형 및 비선형 구성요소에 대해 큰 신호 조건과 작은 신호 조건 모두에 적용할 수 있습니다.S-파라미터의[2] 확장으로, 작은 신호의 한계에서는 X-파라미터가 S-파라미터로 감소합니다.
이는 RF 엔지니어링의 주요 과제인 컴포넌트가 큰 신호 동작 조건에서 캐스케이드될 때 비선형 임피던스 차이, 고조파 혼합 및 비선형 반사 효과가 발생한다는 점을 극복하는 데 도움이 됩니다.이는 개별 계단식 구성요소의 특성과 결과 계단식 구성요소의 복합 특성 사이에 비선형적이고 사소한 관계가 있음을 의미합니다.이 상황은 직렬로 연결된 저항의 값을 단순히 더하는 DC의 경우와 다릅니다.X 파라미터는 이 캐스케이드 문제를 해결하는 데 도움이 됩니다.컴포넌트 세트의 X 파라미터를 개별적으로 측정하면 이들 컴포넌트로 이루어진 임의의 캐스케이드로부터 X 파라미터(및 비선형 전송 함수)를 계산할 수 있습니다.X 파라미터에 근거한 계산은 보통 고조파 밸런스 시뮬레이터 [3]환경에서 실행됩니다.
발전
X 파라미터는 Keysight Technologies에 의해 N5242A 비선형 벡터 네트워크 분석기 [4][5]및 W2200 Advanced Design System에 포함된 기능으로 개발 및 도입되었습니다.N5242A는 이전에 [7]애질런트의 일부였던 키사이트[6] 제품입니다.
X 파라미터는 Jan Verspecht[8][9] 박사와 David E 박사의 다화파 왜곡 모델링 작업의 파라미터입니다.뿌리다.[9]
「 」를 참조해 주세요.
메모들
- ^ Dr. Jan Verspecht (December 2005). "Large-Signal Network Analysis" (PDF). IEEE Microwave Magazine. IEEE. 6 (4): 82–92. doi:10.1109/MMW.2005.1580340. Retrieved May 1, 2009.
- ^ "EDA Focus: May 2009, Transcript of interview of David E. Root by Microwave Journal Editor David Vye on April 16th, 2009". Microwave Journal. April 16, 2009. Retrieved May 4, 2009.
- ^ "Keysight NVNA & X-Parameters Simulation in ADS: The new paradigm for nonlinear measurements, modeling, and simulation with ADS (PDF, 1MB) on the X-Parameters MMIC Design Seminar page". Retrieved July 17, 2015.
- ^ "Agilent Technologies Announces Breakthrough in X-Parameter Nonlinear Model Generation for Components Used in Wireless, Aerospace Defense Industries: X-Parameters Enable Model Generation from Simulation or Measurement, for Fast Development". Keysight.com. December 17, 2008. Retrieved May 6, 2009.
- ^ "Keysight N5242A PNA-X Series Microwave Network Analyzer, 10 MHz to 26.5 GHz". Retrieved July 17, 2015.
- ^ "Electronic design, test automation and measurement equipment". Keysight Technologies.
{{cite web}}: CS1 maint :url-status (링크) - ^ "Agilent's Electronic Measurement business is now Keysight Technologies". Agilent Technologies.
{{cite web}}: CS1 maint :url-status (링크) - ^ Dr. Jan Verspecht (October 1996). "Black Box Modelling of Power Transistors in the Frequency Domain" (PDF). Conference paper presented at the INMMC '96, Duisburg, Germany. Retrieved May 6, 2009. (PDF, 85KB)
- ^ a b Dr. Jan Verspecht; Dr. David E. Root (June 2006). "Polyharmonic Distortion Modeling" (PDF). IEEE Microwave Magazine. IEEE. 7 (3): 44–57. doi:10.1109/MMW.2006.1638289. Retrieved May 6, 2009. (PDF, 2.4)MB)
