푸리에 프로파일은 주기적인 패턴의 왜곡을 사용하여 프로파일을 측정하는 방법이다.이 방법은 푸리에 분석(2차원 고속 푸리에 변환)을 사용하여 곡선 표면의 국부적 기울기를 결정한다.
이를 통해 왜곡 패턴과 겹쳐진 단일 영상에서 표면의 x, y, z 좌표계를 생성할 수 있다.
콘택트렌즈 디자인에 사용하기 위해 인체 각막의 모양을 측정하는 데 특히 사용된다.
