셔먼 함수

Sherman function
모트 산란의 개략도 보기입니다.입사 전자 빔이 대상과 충돌하여 특정 각도에서 좌우로 흩어진 전자가 검출된다. θ

셔먼 함수는 전자-원자 산란 이벤트가 산란 전자스핀에 의존하는 것을 설명한다.[1]물리학자인 노아 셔먼에 의해 이론적으로 처음 평가되었으며, 모트 산란 실험에 의한 전자빔의 양극화 측정이 가능하다.[2]특정 실험 설정과 관련된 셔먼 기능의 정확한 평가는 표본의 자기 행동에 대한 정보를 얻을 수 있는 실험 기법인 스핀 편광 광분광 분광 실험에서 매우 중요하다.[3]

배경

양극화 및 스핀오비트 커플링

스핀-오비트 커플링으로 인한 쿨롱 전위 보정.전자가 전하핵과 상호작용한 결과인 쿨롱 전위는 녹색으로 표시된다.스핀 업(파란색) 및 스핀 다운(빨간색) 전자에 대한 새로운 잠재력은 스핀 오비트 보정값을 고려한 후에 나타난다.

전자 빔이 극성을 띠면 스핀 업( 과 스핀 다운 전자( w 사이의 불균형이 존재한다.불균형은 다음과 같이 정의된[4] 양극화 을(를) 통해 평가할 수 있다.

= p -n p+ w }-n_down}}}}}}.

전자가 핵에 충돌할 때 산란 현상은 쿨롱 상호작용에 의해 지배된다고 알려져 있다.이것이 해밀턴어에서는 선도적인 용어지만 스핀-오비트 커플링에 의한 보정을 고려할 수 있고 해밀턴어에 미치는 영향을 섭동 이론으로 평가할 수 있다.스핀 궤도 상호작용은 전자의 나머지 기준 프레임에서 전자의 스핀 자기 모멘트 상호작용의 결과로 평가될 수 있다.

전자가 보는 자기장과 함께, 핵 주위의 궤도 운동 때문에, 비임상 한계에서 표현되는 것은 다음과 같다.

표현식에서 S }은(는) 스핀 각도 모멘텀, B is the Bohr magneton, is the g-factor, is the reduced Planck constant, is the electron mass, is the elementary charge, is the speed of light, 전자의 전위 에너지이고 = p 각운동량이다.

스핀 궤도 커플링으로 인해 해밀턴에 새로운 용어가 등장하게 되는데, 그 표현은 다음과[5][page needed] 같다.

{

이 효과 때문에 전자는 다른 각도에서 다른 확률을 가지고 흩어지게 된다.관련 핵이 높은 원자 번호 Z를 가질 때 스핀오비트 결합이 강화되기 때문에, 대상은 보통 수은,[1][6], 토륨과 같은 중금속으로 만들어진다.[7]

비대칭

만약 우리가 두 의 검출기를 표적으로부터 같은 각도로 배치한다면, 하나는 오른쪽에, 하나는 왼쪽에 배치하면, 그것들은 일반적으로 전자 n 과 N 다른 개수를 측정할 것이다 따라서 비대칭 를 다음과[2] 같이 정의할 수 있다

= R- +
셔먼 기능은 β = 0.2로 수은(Z = 80)에 대한 각도의 함수로서 사용된다.일반적으로 검출기는 효과가 극대화된 위치에 배치되며, 금과 수은의[1] 경우 120°

셔먼 함수 () S는 스핀-오르비트 결합으로 인해 목표물의 오른쪽 또는 왼쪽에 특정 각도 에서 스핀-업 전자가 산란될 확률을 측정한 것이다.[8][9]그것은 -1 (전자가 목표물의 왼쪽으로 100% 확률로 흩어진다)부터 +1 (전자가 목표물의 오른쪽으로 100% 확률로 흩어진다)까지의 값을 가정할 수 있다.셔먼 함수의 값은 매개 변수 = c 를 통해 평가된 들어오는 전자의 에너지에 따라 달라진다[1] ()= 일 때 스핀업 전자는 대상의 오른쪽과 왼쪽으로 동일한 확률로 산란된다[1]

그러면 쓸 수 있다.

이러한 공식을 비대칭의 정의 내부에 연결하면 특정 각도 [10]즉:

= ()

이론적 계산은 각도의 함수로서 서로 다른 원자 목표물과[1][11] 특정 목표물에 대해 이용할 수 있다.[8]

적용

)=.5 을(를) 갖는 전자 빔의 모트 산란

전자빔의 양극화를 측정하기 위해서는 Mott 검출기가 필요하다.[12]스핀-오비트 커플링을 최대화하기 위해서는 전자가 대상의 핵 근처에 도달해야 한다.이 조건을 달성하기 위해, 일반적으로 전자 광학 시스템은 빔을 keV[13] 또는 MeV[14] 에너지까지 가속시키기 위해 존재한다.표준 전자 검출기는 스핀에 무감각한 전자를 계산하기 때문에,[15] 표적을 가진 산란 후 빔의 원래 양극화에 대한 어떤 정보도 손실된다.그럼에도 불구하고, 두 검출기의 계수 차이를 측정함으로써 비대칭성을 평가할 수 있고, 이전 교정에서 셔먼 기능을 알 수 있다면 마지막 공식을 뒤집어서 양극화를 계산할 수 있다.[10]

평면 내 양극화를 완전히 특성화하기 위해 채널트론 4개, 좌우측정에 2개, 상향측정에 2개 등 설정이 가능하다.[7]

In the panel it is shown an example of the working principle of a Mott detector, supposing a value for . If an electron beam with a 3:1 ratio of spin-up over spin-down electrons collide with the target, it will be splitted with a ratio 5:3, according to previous equation, with an asymmetry of 25%.

참고 항목

참조

  1. ^ a b c d e f Sherman, Noah (15 September 1956). "Coulomb Scattering of Relativistic Electrons by Point Nuclei". Physical Review. 103 (6): 1601–1607. doi:10.1103/physrev.103.1601.
  2. ^ a b Mott, Nevill Francis (January 1997). "The scattering of electrons by atoms". Proceedings of the Royal Society of London. Series A, Containing Papers of a Mathematical and Physical Character. 127 (806): 658–665. doi:10.1098/rspa.1930.0082.
  3. ^ Nishide, Akinori; Takeichi, Yasuo; Okuda, Taichi; Taskin, Alexey A; Hirahara, Toru; Nakatsuji, Kan; Komori, Fumio; Kakizaki, Akito; Ando, Yoichi; Matsuda, Iwao (17 June 2010). "Spin-polarized surface bands of a three-dimensional topological insulator studied by high-resolution spin- and angle-resolved photoemission spectroscopy". New Journal of Physics. 12 (6): 065011. doi:10.1088/1367-2630/12/6/065011.
  4. ^ Mayne, K. I. (July 1969). "Polarized electron beams". Contemporary Physics. 10 (4): 387–412. doi:10.1080/00107516908204794.
  5. ^ Griffiths, Davis J. Introduction to quantum mechanics (2nd ed.). Pearson Prentice Hall. ISBN 0131118927.
  6. ^ Ciullo, Giuseppe; Contalbrigo, Marco; Lenisa, Paolo (2009). Polarized Sources, Targets and Polarimetry : Proceedings of the 13th International Workshop. World Scientific Publishing Co Pte Ltd. p. 337. ISBN 9781283148580.
  7. ^ a b Berti, G.; Calloni, A.; Brambilla, A.; Bussetti, G.; Duò, L.; Ciccacci, F. (July 2014). "Direct observation of spin-resolved full and empty electron states in ferromagnetic surfaces". Review of Scientific Instruments. 85 (7): 073901. doi:10.1063/1.4885447. hdl:11311/825526.
  8. ^ a b Chao, Alexander W.; Mess, Karl H. (2013). Handbook of accelerator physics and engineering (Second ed.). World scientific. pp. 756–757. ISBN 9814415855.
  9. ^ Joachim, Kessler (1976). Polarized electrons. Springer-Verlag. p. 49. ISBN 978-3-662-12721-6.
  10. ^ a b Sherman, Noah; Nelson, Donald F. (15 June 1959). "Determination of Electron Polarization by Means of Mott Scattering". Physical Review. 114 (6): 1541–1542. doi:10.1103/PhysRev.114.1541.
  11. ^ Czyżewski, Zbigniew; MacCallum, Danny O’Neill; Romig, Alton; Joy, David C. (October 1990). "Calculations of Mott scattering cross section". Journal of Applied Physics. 68 (7): 3066–3072. doi:10.1063/1.346400.
  12. ^ Nelson, D. F.; Pidd, R. W. (1 May 1959). "Measurement of the Mott Asymmetry in Double Scattering of Electrons". Physical Review. 114 (3): 728–735. doi:10.1103/PhysRev.114.728. hdl:2027.42/6796.
  13. ^ Petrov, V. N.; Landolt, M.; Galaktionov, M. S.; Yushenkov, B. V. (December 1997). "A new compact 60 kV Mott polarimeter for spin polarized electron spectroscopy". Review of Scientific Instruments. 68 (12): 4385–4389. doi:10.1063/1.1148400.
  14. ^ Steigerwald, M. "MeV Mott Polarimetry at Jefferson Lab" (PDF). Retrieved 25 June 2020.
  15. ^ Ladislas Wiza, Joseph (June 1979). "Microchannel plate detectors". Nuclear Instruments and Methods. 162 (1–3): 587–601. doi:10.1016/0029-554X(79)90734-1.