테스트 템플릿 프레임워크

테스트 템플릿 프레임워크(TTF)는 소프트웨어 테스트를 목적으로 Phil Stocks와 David Carrington이 (Stocks & Carrington 1996)에서 제안한 모델 기반 테스트(MBT) 프레임워크입니다.TTF는 표기법에 의존하지 않는 것을 의미했지만, 원래 프레젠테이션은 Z 형식 표기법을 사용하여 작성되었습니다.유닛 테스트에 접근하는 몇 안 되는 MBT 프레임워크 중 하나입니다.

서론

TTF는 모델 기반 테스트(MBT)의 특정 제안입니다.모형을 Z 규격으로 간주합니다.사양 내의 각 연산을 분석하여 추상적인 테스트 케이스를 도출 또는 생성한다.이 분석은 다음 단계로 구성됩니다.

각 작업의 입력 공간(IS)을 정의합니다.
각 조작의 IS로부터 유효한 입력 공간(VIS)을 도출합니다.
각 VIS부터 1개 이상의 테스트 ^[1]방법을 적용하여 각 작업에 대한 테스트 트리를 구축합니다.테스트 트리는 테스트클래스라고 불리는 노드로 채워집니다.
결과 테스트 트리를 각각 가지치기 합니다.
각 테스트 트리의 각 리프에서 하나 이상의 추상 테스트 케이스를 찾습니다.

TTF의 주요 장점 중 하나는 이러한 모든 개념이 규격의 동일한 표기법, 즉 Z 표기법으로 표현된다는 것입니다.따라서 엔지니어는 추상적인 테스트 사례 생성까지 분석을 수행하려면 하나의 표기법만 알아야 합니다.

중요한 개념

이 섹션에서는 TTF에 의해 정의된 주요 개념에 대해 설명합니다.

입력 공간

$OP를$ Z 연산이라고 $합니다$ .Let $x_{1}\dots x_{n}$ be all the input and (non-primed) state variables referenced in $Op$ , and $T_{1}\dots T_{n}$ their corresponding types. $I$ $IS_{Op}$ { $display style$ IS _ { $Op$ } $IS_{Op}$ i 、 Op $Op$ o i o 、 [ $[x_{1}:T_{1}\dots x_{n}:T_{n}]$ 1 : $[x_{1}:T_{1}\dots x_{n}:T_{n}]$ ... $[x_{1}:T_{1}\dots x_{n}:T_{n}]$ n : $[x_{1}:T_{1}\dots x_{n}:T_{n}]$ n $]{$ $display$ style[ $x$ _ { $[x_{1}:T_{1}\dots x_{n}:T_{n}]$ ]에 의해 정의되는Z 스키마 박스입니다. $T_{1}\dots x_{n}:$ $T_{n$

유효한 입력 공간

$OP를$ Z 연산이라고 $합니다$ . $pre$ $Op$ { $displaystyle$ $Op$ 을 ${\text{pre }}Op$ $Op$ 의 $Op$ 으로 $합니다$ .[ $VIS_{Op}$ $VIS_{Op}$ $VIS_{Op}$ Op \ $display style$ VIS $_$ { Op $VIS_{Op}$ $Op$ ] $[IS_{Op}|{\text{pre }}Op]$ v 、 [ $[IS_{Op}|{\text{pre }}Op]$ S $[IS_{Op}|{\text{pre }}Op]$ $[IS_{Op}|{\text{pre }}Op]$ $]{$ $displaystyle$ [ $IS$ _ { $Op$ } \ text { $pre$ } Op $[IS_{Op}|{\text{pre }}Op]$ ]에 $[IS_{Op}|{\text{pre }}Op]$ 의해 정의된Z 스키마 박스입니다.

테스트 클래스

$Op$ ${$ $displaystyle$ Op} 를 $Op$ Z 연산, P{ $displaystyle$ P} 를 $P$ $VIS_{Op}$ $VIS_{Op}$ { $display$ style $VIS _$ { $Op$ } 에서 $VIS_{Op}$ 된 변수 중 하나 이상에 따라 술어라고 $합니다$ . 그런 다음 Z 스키마 $[VIS_{Op}|P]$ 상자 [ $[VIS_{Op}|P]$ S $]$ { $display$ style [ $VIS$ _ { $Op$ } class }는 $[VIS_{Op}|P]$ test $}$ 입니다.이 스키마는 [ $[IS_{Op}|{\text{pre }}Op\land P]$ S $[IS_{Op}|{\text{pre }}Op\land P]$ $[IS_{Op}|{\text{pre }}Op\land P]$ $[IS_{Op}|{\text{pre }}Op\land P]$ P $[IS_{Op}|{\text{pre }}Op\land P]$ ]{ $displaystyle$ [ $IS$ _ { $Op$ } { text { $pre }$ } $Op$ \ $land$ P $[IS_{Op}|{\text{pre }}Op\land P]$ 과 같습니다. $C_{Op}$ 관찰은 C $C_{Op}$ { $displaystyle$ $C$ _ { $Op$ $Op$ }가 $C_{Op}$ 스키마 $[C_{Op}|P]$ 박스에서 $정의$ 된 $Op$ 의 테스트 클래스인 $C_{Op}$ 로 일반화할 수 있습니다. $P$ $]}$ 는 $[C_{Op}|P]$ $Op의$ 클래스이기도 합니다 $Op$ 이 정의에 따르면 VIS도 테스트 클래스입니다.

$C_{Op}$ $C_{Op}$ ${$ $displaystyle$ C $C_{Op}$ $_$ { $Op$ $C'_{Op}==[C_{Op}|P]$ }가 $C_{Op}$ $Op$ { $displaystyle$ Op $Op$ }의 테스트 클래스인 $C_{Op}$ , $C'_{Op}==[C_{Op}|P]$ $C'_{Op}==[C_{Op}|P]$ [ $C'_{Op}==[C_{Op}|P]$ $]$ 의 $P$ $C'_{Op}==[C_{Op}|P]$ { $displaystyle$ P $P$ }는 $C'_{Op}==[C_{Op}|P]$ $C$ 의 $C'_{Op}$ 술어이다. $C'_{Op}$ 는 $C'_{Op}$ P $(\displaystyle$ P $P$ 로 되어 있습니다.

테스트 클래스는 테스트 목표(Uting & Legeard 2007), 테스트 템플릿(Stocks & Carrington 1996) 및 테스트 사양이라고도 합니다.

테스트 방법

TTF의 맥락에서 테스트^[1] 전략은 모든 동작의 테스트 클래스를 분할하는 수단입니다.그러나 실제로 사용되는 테스트 전술 중 일부는 실제로 일부 테스트 클래스의 파티션을 생성하지 않습니다.

TTF에 대해 최초로 제안된 테스트 전술은 다음과 같습니다.

분리정규형(DNF)이 방법을 적용하면 연산은 분리 정규 형식으로 작성되고 테스트 클래스는 결과 연산 술어의 용어 수만큼 테스트 클래스로 분할됩니다.각 새 검정 클래스에 추가된 술어는 연산 술어에 포함된 용어 중 하나의 전제 조건입니다.
표준 파티션(SP)이 방법에서는 일부 수학 연산자의 사전 정의된 파티션을 사용합니다(Stocks 1993).예를 들어, 다음은 $S\spadesuit T$ $♠$ T {\ $displaystyle S$ \ $spadesuit$ $S\spadesuit T$ T $}$ $S\spadesuit T$ 의 $S\spadesuit T$ $\spadesuit$ 표현에 적합한 파티션입니다. 여기서 $♠$ ${\$ $displaystyle$ \cup $\cup$ $display$ {\displaystyle $\cap}$ 및 $\cap$ ${\$ {\ $displaystyle \setus}($ 세트 이론 참조).
${\displaystyle{\begin{배열}{내가}S=\emptyset ,T=\emptyset&.S\neq T\\\hline S=\emptyset,T\neq \emptyset 및 ,S\subset,,T\neq \emptyset \emptyset.S\neq,,T\neq\emptyset ,T\subset S\\\hline S\neq \emptyset ,T=\emptyset 및 \emptyset.S\neq T=\emptyset 및 ,S\cap,,T\neq \emptyset ,T=S\\\hline S\neq \emptyset,T\neq \emptyset \emptyset.S\neq \emptyset ,T\neq \emptyset,S\cap T\neq \emptyset,\lnot(S\subseteq T),\lnot(T\subseteq S),S\neq T\end {array}}$

알 수 있듯이 표준 파티션은 엔지니어가 수행하는 테스트 양에 따라 변경될 수 있습니다.
서브 도메인 전파(SDP).이 방법은 다음을 포함하는 표현에 적용됩니다.
1. 표준 파티션이 이미 정의된 두 개 이상의 연산자 또는
2. 다른 수학적 연산자의 관점에서 정의된 수학적 연산자.
이러한 경우 식 또는 복잡한 식 정의에서 나타나는 연산자의 표준 파티션은 식에 대한 파티션을 생성하기 위해 결합됩니다.두 번째 경우에 전술이 적용되면 결과 파티션은 해당 오퍼레이터의 표준 파티션으로 간주할 수 있습니다.자 주가와 캐링턴(주식 &. 캐링턴 1996년)에 이 상황⋪{\displaystyle \ntriangleleft},⋪{\displaystyle \ntriangleleft}과 표준 파티션을 줌으로써 도메인 anti-restriction을 의미하 G{\displaystyle R\oplus G=({\text{dom}}G\ntriangleleft R)\cup G}, ∪ R⊕ G=(dom G⋪ R)로 설명하다 $"\displaystyle$ $\$ oplus $\oplus$ $파티션$ 을 $\cup$ 계산하도록 $전파$ 합니다 $\cup$
사양 변환(SM). 이 전술의 첫 번째 단계는 Z 연산의 돌연변이를 생성하는 것입니다.Z연산의 돌연변이는 프로그램의 돌연변이와 개념이 유사하며, 즉 연산의 수정 버전이다.이 변경은 구현에서 오류를 발견하기 위해 엔지니어에 의해 도입되었습니다.돌연변이는 엔지니어가 프로그래머가 구현했다고 추측하는 규격이어야 합니다.그 후 엔지니어는 양쪽 사양에서 다른 결과를 얻을 수 있는 VIS 서브셋을 계산해야 합니다.이 세트의 술어는 새 테스트 클래스를 도출하는 데 사용됩니다.

그 밖에 사용할 수 있는 테스트 방법은 다음과 같습니다.

내선번호 설정(ISE) $expr\in \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ $expr\in \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ p $expr\in \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ $expr\in \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ { $expr\in \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ $expr\in \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ p $expr\in \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ $expr\in \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ , $expr\in \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ , $expr\in \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ $expr\in \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ $expr\in \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ $expr\in \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ n $}$ { $display$ style $expr$ \ $in$ \ { $expr$ _ { $expr=expr_{i}$ $1$ } , \ $expr _$ { $n$ } $expr\in \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ } $expr\in \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ 의 $expr=expr_{i}$ 술어에 적용됩니다.이 경우 e $expr=expr_{i}$ $expr=expr_{i}$ $=$ $expr=expr_{i}$ $expr=expr_{i}$ $expr=expr_{i}$ i $display$ { $n}형식$ 의 술어가 n개의 테스트 클래스를 $생성$ 합니다.
필수 테스트 세트(MTS).이 방법에서는 상수 값 집합을 VIS' 변수에 연결하고 세트 내의 요소 수만큼 테스트 클래스를 생성합니다.각 테스트 클래스는 v $var=val$ $var=val$ $var=val$ $var=val$ $var=val$ $var=val$ { $displaystyle$ var $=val}$ $var=val$ 의 $var=val$ 술어로 특징지어집니다. $여기$ 서 var는 변수의 $이름$ 이고 val은 세트의 값 중 하나입니다.
수치 범위(NR).이 방법은 타입 $($ 서브타입 $(\$ 의 VIS 변수에만 적용됩니다.이것은 범위를 변수에 관련짓고 변수를 어떤 방식으로 범위의 한계와 비교함으로써 테스트 클래스를 도출하는 것으로 구성됩니다.좀 더 형식적으로 n을 $(\$ $[i,j]$ \ $mathbb {Z})$ 의 $\mathbb {Z}$ 변수, $[i,j]$ j](\ $displaystyle [i,$ j])를 $[i,j]$ 관련 범위로 $합니다$ $[i,j]$ $n<i$ 다음 전술에 의해 n $n<i$ < $n<i$ \ $displaystyle$ n < $i$ $n<i$ , $n=i$ $n=i$ \ $displaystyle$ n $i<n\land n<j$ $=$ $i$ $n=i$ , $i<n\land n<j$ $n=j$ < $n n$ n $i<n\land n<j$ , n $=$ $n=j$ { $displaystyle$ $i<n\land n<j$ n $=$ $n>j$ $n=j$ $n>j$ , $n>j$ > j { $displaystyle$ n $=$ j $n>j$ } 의 술어로 특징지어지는 테스트 클래스가 생성됩니다.
프리 타입(FT)이 방법에서는 프리(계상) 타입의 요소 수만큼 테스트클래스가 생성됩니다.즉, 어떤 모델에서 COLOR $::= red blue$ green $유형$ 을 정의하고 일부 작업에서 COLOR $유형$ 의 c를 $사용$ 하는 경우, 각 테스트 클래스는 세 가지 새로운 테스트 클래스로 나뉩니다. 하나는 $c$ 가 $빨간색$ , 다른 $하나$ 는 c가 $파란색$ , 세 번째는 $c$ 가 $녹색$ 입니다.
Set Extension(PSE; 세트 확장)의 적절한 서브셋.이 방법은 ISE의 동일한 개념을 사용하지만 포함을 설정하는 데 적용됩니다.PSE는 $expr\subset \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ $expr\subset \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ $expr\subset \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ r $expr\subset \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ { $expr\subset \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ $expr\subset \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ p $expr\subset \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ $expr\subset \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ 、 $expr\subset \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ , $expr\subset \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ $expr\subset \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ p $expr\subset \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ n $expr\subset \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ } { $display style expr$ \ { $expr _$ { $1$ } \ $display style$ $expr=A_{i}$ $expr\subset \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ \ { n $expr\subset \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ } \ $expr\subset \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ } $expr\subset \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ 의 술어를 포함한 연산을 테스트하는데 도움이 됩니다.PSE를 적용하면 $expr=A_{i}$ 의 $2^{n}-1$ - $($ $expr=A_{i}$ $styledyle$ 2 $^{n}$ ) $expr=A_{i}$ 가 $2^{n}-1$ $2^{n}-1$ 됩니다. $i\in [1,2^{n}-1]$ $expr=A_{i}$ $i\in [1,2^{n}-1]$ $expr=A_{i}$ [ 1 $expr=A_{i}$ , 2 n $i\in [1,2^{n}-1]$ - $]{$ $displaystyle$ i $\in [ 1,2^{$ $A_{i}\in \mathbb {P} \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}\setminus \{\{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}\}$ $}-$ 1]} $i\in [1,2^{n}-1]$ 및 $A_{i}\in \mathbb {P} \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}\setminus \{\{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}\}$ P { $A_{i}\in \mathbb {P} \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}\setminus \{\{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}\}$ $A_{i}\in \mathbb {P} \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}\setminus \{\{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}\}$ $A_{i}\in \mathbb {P} \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}\setminus \{\{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}\}$ $A_{i}\in \mathbb {P} \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}\setminus \{\{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}\}$ 1 , $A_{i}\in \mathbb {P} \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}\setminus \{\{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}\}$ , $A_{i}\in \mathbb {P} \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}\setminus \{\{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}\}$ $A_{i}\in \mathbb {P} \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}\setminus \{\{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}\}$ $A_{i}\in \mathbb {P} \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}\setminus \{\{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}\}$ r n $A_{i}\in \mathbb {P} \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}\setminus \{\{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}\}$ $A_{i}\in \mathbb {P} \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}\setminus \{\{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}\}$ { e $A_{i}\in \mathbb {P} \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}\setminus \{\{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}\}$ $A_{i}\in \mathbb {P} \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}\setminus \{\{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}\}$ $A_{i}\in \mathbb {P} \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}\setminus \{\{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}\}$ , $A_{i}\in \mathbb {P} \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}\setminus \{\{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}\}$ , $A_{i}\in \mathbb {P} \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}\setminus \{\{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}\}$ $A_{i}\in \mathbb {P} \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}\setminus \{\{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}\}$ p $A_{i}\in \mathbb {P} \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}\setminus \{\{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}\}$ n $} {$ { $style$ A _ { $i }$ \ $in$ \ $mathbbbbb$ $\{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ $\mathbb {P} \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ $\{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ $\{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ $\{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ $\{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ 1, $\{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ , $\{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ x $\{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ $\{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ $\{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ $}$ { $displaystyle$ \ { $expr$ _ {1 $}$ , $\mathbb {P} \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ \ $dots$ , $\mathbb {P} \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ $\{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ _ { $n$ } { $displaystyle$ \ $mathbb$ { $P$ \ { $expr$ _ { $1$ , \ $dots$ , $expr _$ n $\mathbb {P} \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ } } expr { n $\{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ $\mathbb {P} \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ $\mathbb {P} \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ $\mathbb {P} \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ subset $\mathbb {P} \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ of is of of subset of of of of of of of of p p p p p p p p p p p p p p p p p p p p p p p p p p $\mathbb {P} \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ $\mathbb {P} \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ p p p p p p
Set Extension(SSE; 세트 확장)의 서브셋.이는 PSE와 동일하지만 $expr\subseteq \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ $expr\subseteq \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ $expr\subseteq \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ $\{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ $expr\subseteq \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ { $expr\subseteq \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ $expr\subseteq \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ $expr\subseteq \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ $expr\subseteq \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ 1 $\{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ 、 $expr\subseteq \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ , $expr\subseteq \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ $expr\subseteq \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ $expr\subseteq \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ r n $expr\subseteq \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ } { $display style expr$ \ {1} , \ $dots$ , $expr$ _ { n $expr\subseteq \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ $2^{n}$ $expr\subseteq \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ } $expr\subseteq \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ 의 술어에 적용됩니다. $\{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ 경우 $\{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ $\{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ $expr\subseteq \{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ _ { n }\ $display$ 2^ { $n$ } $\{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ } $형식$ 의 술어에도 $\{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ 됩니다 $\{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$ $\{expr_{1},\dots ,expr_{n}\}$

테스트 트리&

테스트 방법을 VIS에 적용하면 테스트 클래스가 생성됩니다.이러한 테스트 클래스 중 일부가 하나 이상의 테스트 전술을 적용하여 추가로 분할되면 새로운 테스트 클래스 세트를 얻을 수 있습니다.이 프로세스는 지금까지 생성된 테스트클래스에 테스트 전술을 적용하여 계속할 수 있습니다.분명히 이 프로세스의 결과는 VIS를 루트노드로 하여 트리로 그릴 수 있으며 첫 번째 테스트 전술에 의해 생성된 테스트클래스도 자녀로 그릴 수 있습니다.또한 (Stocks & Carrington 1996)의 Stocks와 Carrington은 다음과 같이 Z 표기법을 사용하여 트리를 구축할 것을 제안합니다.

$디스플레이 스타일VIS&==[IS P]\\TCL_{T_{1}}^{1}&==[VIS P_{T_{1}^{1}]\&\dots \\TCL_{T_{1}}^{n}&==[VIS P_{T_{1}^{n}]\\TCL_{T_{2}}:^{1}&==[TCL_{T_{1}}^{i}P_{T_{2}^{1}]\&\dots \\TCL_{T_{2}}:^{m}&==[TCL_{T_{1}}^{i}P_{T_{2}}^{m}\\&\syslog\\\\TCL_{T_{3}}:^{1}&==[TCL_{T_{2}}^{j} P_{T_{3}}^{1}]\&\dots \\TCL_{T_{3}}^{k}&==[TCL_{T_{2}}^{j} P_{T_{3}^{k}}\&\dots \&\dots \&\end{aligned}}$

테스트 트리 가지치기

일반적으로 테스트 클래스의 술어는 두 개 이상의 술어가 결합된 것입니다.따라서 일부 테스트 클래스는 술어가 모순이기 때문에 비어 있을 수 있습니다.이러한 테스트 클래스는 입력 값의 불가능한 조합을 나타내기 때문에 테스트 트리에서 제거되어야 한다. 즉, 이들로부터 추상적인 테스트 사례를 도출할 수 없다.

추상 테스트 케이스

추상 테스트 케이스는 테스트 클래스에 속하는 요소입니다.TTF는 추상적인 테스트 사례는 테스트 나무의 잎에서만 도출해야 한다고 규정하고 있다.추상 테스트 케이스는 Z 스키마 박스로도 쓸 수 있습니다. $Op$ { $displaystyle$ Op } $Op$ 、 $VIS_{Op}$ $VIS_{Op}$ $VIS_{Op}$ { $displaystyle$ $VIS$ _ { $Op$ } $Op$ 、 x $VIS_{Op}$ 1 : $x_{1}:T_{1}\dots x_{n}:T_{n}$ $1$ $x_{1}:T_{1}\dots x_{n}:T_{n}$ n : $x_{1}:T_{1}\dots x_{n}:T_{n}$ n : $x_{1}:T_{1}\dots x_{n}:T_{n}$ $x_{1}:T_{1}\dots x_{n}:T_{n}$ : { $displaystyle x_{$ } : $T_{1}\dots x_{n}:$ $T_{n}$ 는 $x_{1}:T_{1}\dots x_{n}:T_{n}$ V $VIS_{Op}$ $VIS_{Op}$ { $displaystyle VIS$ _ { $Op$ }에서 선언된 모든 변수입니다. $C_{Op}$ { $displaystyle$ C _ { $Op$ }는 $C_{Op}$ $Op$ ${$ $displaystyle$ Op $Op$ }과 $P_{1}\dots P_{m}$ (와) 관련된 테스트 트리의 (리프) 테스트 클래스로 하고, $P_{1}\dots P_{m}$ … $P_{1}\dots P_{m}$ { $displaystyle$ P_style P_ ${1}$ 는 P_style P_style P_dots $}$ 로 $하겠습니다$ . $C_{Op}$ (자녀에서 부모로 엣지를 따름) 최대 $VIS_{Op}$ S $VIS_{Op}$ { $display$ VIS _ { $Op$ } 、 $v_{1}:T_{1}\dots v_{n}:T_{n}$ $C_{Op}$ 1 $v_{1}:T_{1}\dots v_{n}:T_{n}$ : $v_{1}:T_{1}\dots v_{n}:T_{n}$ ... $v_{1}:T_{1}\dots v_{n}:T_{n}$ : $v_{1}:T_{1}\dots v_{n}:T_{n}$ n \ $display$ style $v$ _ { $v_{1}:T_{1}\dots v_{n}:T_{n}$ } : $T_{1}\dots v_{n}:$ $T_{n}$ 은 $v_{1}:T_{1}\dots v_{n}:T_{n}$ $P_{1}\land \dots \land P_{m}$ 1 $P_{1}\land \dots \land P_{m}$ { $display style$ n} $P_{1}\land \dots \land P_{m}$ 의 $n$ 상수값을 $P_{1}\land \dots \land P_{m}$ 하는n { display $style P_{1}\land$ \ $display p_$ ${$ m $P_{1}\land \dots \land P_{m}$ 이어야 하며, $C_{Op}$ $C_{Op}$ 의 추상적인 테스트 $[C_{Op}|x_{1}=v_{1}\land \dots \land x_{n}=v_{n}]$ 는 [ $[C_{Op}|x_{1}=v_{1}\land \dots \land x_{n}=v_{n}]$ $[C_{Op}|x_{1}=v_{1}\land \dots \land x_{n}=v_{n}]$ $C_{Op}$ $[C_{Op}|x_{1}=v_{1}\land \dots \land x_{n}=v_{n}]$ x 1 $[C_{Op}|x_{1}=v_{1}\land \dots \land x_{n}=v_{n}]$ $[C_{Op}|x_{1}=v_{1}\land \dots \land x_{n}=v_{n}]$ $display style$ 1 $[C_{Op}|x_{1}=v_{1}\land \dots \land x_{n}=v_{n}]$ 에서 $C_{Op}$ $[C_{Op}|x_{1}=v_{1}\land \dots \land x_{n}=v_{n}]$ 스키마 박스이다. $d \syslog \land x_{n}=v_{n$

「」를 참조해 주세요.

레퍼런스

를 클릭합니다Stocks, Phil; Carrington, David (1996), "A framework for specification-based testing", IEEE Transactions on Software Engineering, 22 (11): 777–793, doi:10.1109/32.553698.
를 클릭합니다Utting, Mark; Legeard, Bruno (2007), Practical Model-Based Testing: A Tools Approach (1st ed.), Morgan Kaufmann, ISBN 0-12-372501-1.
를 클릭합니다Stocks, Phil (1993), Applying Formal Methods to Software Testing, Department of Computer Science, University of Queensland, PhD thesis.

메모들

^ ^a ^b Stocks & Carrington 1996에서 Stocks & Carrington은 테스트 전략이라는 용어를 사용합니다.

[testing_strategy-1] Stocks & Carrington 1996에서 Stocks & Carrington은 테스트 전략이라는 용어를 사용합니다.

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서론

중요한 개념

입력 공간

유효한 입력 공간

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테스트 방법

테스트 트리&

테스트 트리 가지치기

추상 테스트 케이스

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