레벨에 민감한 스캔 설계
Level-sensitive scan design | 이 글은 주제를 잘 모르는 사람들에게 불충분한 맥락을 제공한다. (2012년 6월)(이과 시기 |
레벨 감지 스캔 설계(LSSD)는 통합 회로 제조 테스트 프로세스의 일부다. 별도의 시스템과 스캔 클럭을 이용해 정상 모드와 테스트 모드를 구분하는 DFT 스캔 설계 방식이다. 래치는 2인 1조로 사용되며, 각 래치는 시스템 작동을 위한 정상적인 데이터 입력, 데이터 출력 및 클럭을 가지고 있다. 테스트 작동을 위해 두 래치는 시스템 작동 중에 낮게 유지되지만 스캔 중 펄스가 높을 때 스캔 데이터가 래치되도록 하는 스캔 입력 1개, 스캔 출력 1개 및 오버래핑되지 않는 스캔 클럭 A 및 B로 마스터/슬레이브 쌍을 형성한다.
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단일 래치 LSSD 구성에서 두 번째 래치는 스캔 작동에만 사용된다. 두 번째 시스템 래치로 사용할 수 있게 하면 실리콘 오버헤드가 감소한다.
참고 항목
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