스펙트럼 에지 주파수

Spectral edge frequency

스펙트럼 에지 주파수 또는 SEF는 신호 처리에 사용되는 측정치다. 보통 "SEF x"로 표현되는데, 이는 주어진 신호의 총 출력의 x 퍼센트가 위치하는 주파수 이하의 주파수를 의미한다. (1998 x는 75 ~ 95 범위에 있음)

특히 EEG 모니터링에서 많이 사용되는 측정치로, 이 경우 SEF는 마취의 깊이와 수면 단계를 추정하는 데 다양하게 사용되어 왔다.[1][2]

참고 항목

참조

  • Drummond JC, Brann CA, Perkins DE, Wolfe DE: "중위 주파수, 스펙트럼 에지 주파수, 주파수 대역 전력 비율, 총 전력 및 마취 깊이 결정에서의 우세 변화의 비교" 1991년 11월 35일(8):693-9.
특정
  1. ^ Iranmanesh, Saam; Rodriguez-Villegas, Esther (2017). "An Ultralow-Power Sleep Spindle Detection System on Chip". IEEE Transactions on Biomedical Circuits and Systems. 11 (4): 858–866. doi:10.1109/TBCAS.2017.2690908. hdl:10044/1/46059. PMID 28541914.
  2. ^ Imtiaz, Syed Anas; Rodriguez-Villegas, Esther (2014). "A Low Computational Cost Algorithm for REM Sleep Detection Using Single Channel EEG". Annals of Biomedical Engineering. 42 (11): 2344–59. doi:10.1007/s10439-014-1085-6. PMC 4204008. PMID 25113231.