RF 프로브

RF 프로브는 전자 회로의 무선 주파수(RF) 신호를 전자 테스트 장비가 측정할 수 있도록 하는 장치다.

역사

1980년 리드 글리슨과 에릭 스트리드는 테크트로닉스에서 일하면서 최초의 고주파 웨이퍼 프로브를 발명했다.그들은 이후 1983년에 Cascade Microtech를 발견하게 되었다.^[1]

RF 에너지는 측정할 회로의 특성과 당면한 측정 장비에 따라 하나 이상의 이유로 측정하기가 어려울 수 있다.

첫 번째 종류의 난이도는 측정할 RF 에너지가 저주파 오실로스코프와 같은 사용 가능한 테스트 장비가 직접 처리하기에 너무 높은 주파수에 있을 때 발생한다.이 경우 RF는 DC 또는 근DC 신호로 변환해야 한다.

이 경우 RF 신호를 DC로 변환하는 데 RF 검출기라고도 하는 단순한 프로브 유형을 사용할 수 있다.그러한 장치는 RF 정류기로 작동하며 펄스 DC 전압을 제공한다.^[2]

두 번째 종류의 난이도는 RF 에너지가 전기 환경의 작은 변화에 민감한 회로에서 측정되어야 할 때 발생한다.예를 들어 일부 오실레이터 회로에서는 활성 구성 요소의 몇 센티미터 이내에 일반 와이어가 있으면 진동의 진폭이나 주파수가 변경되거나 회로가 전혀 진동하지 않을 수 있다.이 경우 신호는 회로에서 매우 적은 에너지를 추출하는 측정 프로브에 의해 획득되어야 한다.이것은 매우 얇은 도체 또는 회로의 활성 요소로부터 최소한으로 분리되어 있는 작은 코일을 채택함으로써 달성될 수 있다.

고주파수보다는 회로 부하가 진짜 문제인 상황에서는 다양한 소형 지오메트리 고임피던스 프로브를 사용할 수 있으며, 때로는 회로에서 추출한 소량의 에너지를 가용 고주파수 시험 장비로 측정할 수 있는 수준으로 증폭기를 포함하기도 한다.

스프링 내장 내측 및 외측 도체가 있는 동축 구조물은 현대 통신 전자 장치의 RF 프로브 역할을 할 수 있다.예를 들어 그러한 탐사는 휴대전화 산업과 같은 통신 전자제품의 대량 생산, 인라인 테스트에 이용되고 있다.^[3]RF 프로브는 특히 RF 구성품 종단뿐만 아니라 인쇄 회로 기판의 스위치 및 RF 트레이스와 관련이 있다.그러한 시스템에서는 다른 많은 RF 회로와 마찬가지로 프로브 임피던스를 DUT의 임피던스와 일치시킬 필요가 더 높다.효율적인 매칭은 반사를 방지하여 효율적인 동력 전달을 유도한다.동력 전달을 효율적으로 유지하기 위한 두 번째 과제는 삽입 손실을 가능한 낮게 유지하는 것이다.이러한 매개변수를 최적화하는 것은 일반적으로 빈도가 증가할수록 더욱 어려워진다.

참조

• 루돌프 그라프의 전자회로 백과사전, 윌리엄 시트.McGraw-Hill Professional 출판, 1996 - ISBN 0-07-011275-4, ISBN 978-00-07-011275-9

외부 링크

• 공상과학 전자 설계에 게시