고장 등급 지정

Fault grading

고장 등급이란 실제로 검출될 수 있는 제작 결함 수를 생각할 때 시험 벡터 세트로 연관시켜 시험성을 평가하는 절차다.

만족스러운 고장 범위가 확보될 때까지 시험 회로시험 패턴을 모두 반복적으로 정제하는 데 사용된다.[1]

참고 항목

참조

  1. ^ Kaeslin, Hubert (2008-04-28), Digital Integrated Circuit Design: From VLSI Architectures to CMOS Fabrication, Cambridge University Press, p. 24, ISBN 9780521882675